Descripción
El análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) es un método no destructivo que puede probar las radiografías características secundarias (fluorescencia de rayos X) generadas por la muestra cuando la radiografía primaria excita la muestra.
Este método puede realizar la medición rápida de las muestras sólidas y líquidas. El espectrómetro XRF6 EDXRF es el nuevo tipo de instrumento analítico de alta gama de Persee.
Combina los años de experiencia de Persee con las pruebas de elementos con configuraciones únicas de productos y software completamente funcional.
Su diseño ergonómico y sus interfaces de software amigables otorgan a los usuarios un trabajo de medición simple.
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